Difraktometer Bruker D8 DISCOVER
Laboratórium pôsobí v rámci konzorcia MULTIDISC, ktoré bolo založené niekoľkými ústavmi SAV a je zamerané na multidisciplinárny výskum materiálov. Je vybavené vysoko-variabilným difraktometrom, ktorý umožňuje realizovať rôzne metódy rtg analýz a meranie reflektivity na tenkovrstvových vzorkách s hrúbkami od mikrometrov až po niekoľko nanometrov.
Zariadenie:
Difraktometer Bruker D8 DISCOVER vybavený:
- Rotačnou Cu anódou pracujúcou s príkonom 12 kW (max. 18 kW)
- Goebelovým zrkadlom zabezpečujúcim rovnobežný zväzok s divergenciou ~0,03°
- Centrálnou Eulerovou kolískou, motorizovaným držiakom vzorky s X, Y, Z posuvom
- 4-odrazovým Bartelsovým monochromátorom s dvoma Ge 022 kanálovými monokryštálmi a 3-odrazovým Ge 022 analyzátorovým kryštálom
- Nožovým kolimátorom pre meranie reflektivity
Využitie:
- Štandardná θ/2θ difrakcia a difrakcia pri malom uhle dopadu
- Analýza textúry a meranie makroskopických napätí
- Rtg difrakcia s vysokým rozlíšením a mapovanie reciprokého priestoru
- Kvantitatívna fázová analýza, určovanie veľkosti kryštalitov a mikrodeformácie
- Rtg reflektivita a meranie difúzne rozptýleného žiarenia
Kontakt: doc. RNDr. E. Dobročka, CSc., Tel.: 02-5479 2507
Prístup: Individuálna návšteva
Cena: 20 EUR/hod. pre zamestnancov SAV (prevádzkové náklady zariadenia)
Difraktometer Bruker D8 DISCOVER
PANalytical X’Pert3 MRD
Laboratórium umožňuje vykonávať rôzne typy rtg difrakčných analýz s vysokým rozlíšením a meranie reflektivity od povrchov alebo tenkých vrstiev s hrúbkou v rozsahu rádovo od mikrometrov do niekoľkých nanometrov. Laboratórium ďalej umožňuje vyvíjať moderné fázovo kontrastné rtg zobrazovacie metódy (2D, 3D). Pre detekciu rtg žiarenia sa používa buď nepriamo konvertujúca scintilačná rtg kamera alebo priamo konvertujúci polovodičový detektor na báze medipix technológie s kremíkovým (Si) alebo gáliumarsenidovým (GaAs) vyčítavacím senzorom.
Vybavenie:
- Vysokorozlišovací rtg difraktometer PANalytical X’Pert3 MRD s Cu anódou
- Vysokorozlišovací rtg zobrazovací systém pre výskum moderných 2D a 3D zobrazovacích metód
- Manipulátor pre rtg optiku s dvoma vysoko presnými hexapodmi
- Rtg detektor na báze medipix (timepix) technológie s Si a GaAs vyčítavacím senzorom (veľkosť pixela = 55 µm)
- Vysokorozlišovacia scintilačná rtg kamera (veľkosť pixela = 6,4 µm)
Aplikácie:
- Rtg difrakcia a mapovanie reciprokého priestoru s vysokým rozlíšením
- Meranie rtg reflektivity a difúzneho rozptylu, textúrna a napäťová analýza
- Kvantitatívne meranie veľkosti kryštalickej fázy, ťahového napätia, kompozície a hrúbky vrstiev
- Fázovo kontrastná rádiografia a tomografia ľahkých vzoriek s rozlíšením 3 µm
- Testovanie polovodičových detektorov (Si, GaAs) v rámci pokročilých zobrazovacích metód
Kontakt: Ing. Zdenko Zápražný, PhD., Tel.: +421 259 222 480
Prístup: prístup so sprievodom, online rezervácia
Cena: 0 Eur/h. pre zamestnancov SAV
PANalytical X’Pert3 MRD